Modellgestützte Streifenprojektion: Innovative Messsysteme am ILM

Modellgestützte Streifenprojektion: Entdecken Sie unsere innovativen Messsysteme am ILM, die auf einer modellbasierten Streifenprojektion basieren. Unsere Systeme variieren in Bezug auf Lichtquellen und spektrale Reichweite, darunter ein Hochleistungssystem mit neun LEDs für eine breite Anwendungspalette in Echtzeit. Wir bieten auch hyperspektrale Messlösungen im sichtbaren und nahinfraroten Bereich, die eine präzise Oberflächenanalyse und die Charakterisierung von Mikrostrukturen ermöglichen. Von Oberflächentopografie bis hin zur Chromophorkonzentration – unsere Messsysteme bieten vielseitige Anwendungen für Ihre Bedürfnisse in Forschung und Industrie.

The ILM has developed several measurement systems applying model-based fringe projection, which differ in particular with regard to the light sources used and their spectral range. For example, a measurement system with nine LEDs with wavelengths between 450 nm and 950 nm

has been set up, which enables measurement rates of 10 Hz, thus, enabling a large number of in vivo and online applications. Hyperspectral measurement systems in the ultraviolett, visible and near-infrared wavelength range (from 200 nm to 1600 nm) were also developed at the ILM.

Mono-, multi- and hyperspectral measurement systems

  • Measuring systems using only one wavelength are particularly suitable for determining surface topography, surface roughness and depth selective imaging (see picture)
  • Multi- and hyperspectral measuring systems also allow the determination of chromophore concentrations and the exact characterization of the microstructure
Apfel mit Schadstelle
Apfel mit Schadstelle

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Prof. Dr. Alwin Kienle

Prof. Dr. Alwin Kienle

Director Materials Optics & Imaging

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