Ein großer Vorteil der interferometrischen Verfahren ist die Anwendbarkeit bei streuenden und spiegelnden Oberflächen als auch die intrinsische Insensitivität gegenüber der farblichen Zusammensetzung der Objektoberfläche. So können zum einen die

 

Eigenentwicklung an Ihre Anforderungen angepasst werden und zum anderen die interferometrisch ermittelten Topographiedaten entsprechend DIN EN ISO 4288 und DIN EN ISO 3274 in Rauheitswerte umgerechnet werden.

 

Mehrwellenlängenholographie

Mit der digital holographischen Interferometrie lassen sich sowohl die Topographie der Objektoberfläche als auch dynamische Veränderungen der Objektoberfläche mit sub-µm Genauigkeit erfassen. Die Objekte können dabei reflektierend oder streuend sein. Von uns entwickelt und zum Patent angemeldet: ein miniaturisierter hochstabilisierter digital holographischer Mehrwellenlängen Sensor, der innerhalb von 1 Sekunde 100 Millionen Messpunkte erfasst. Somit stellt dieser Sensor einer der weltweit schnellsten Sensoren dar.

 

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Dr. Daniel Claus

Abteilungsleiter Messtechnik

Tel: + (49) 731 / 14 29 225

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