Modellgestützte Streifenprojektion

Modellgestützte Streifenprojektion: Innovative Messsysteme am ILM

Modellgestützte Streifenprojektion: Entdecken Sie unsere innovativen Messsysteme am ILM, die auf einer modellbasierten Streifenprojektion basieren. Unsere Systeme variieren in Bezug auf Lichtquellen und spektrale Reichweite, darunter ein Hochleistungssystem mit neun LEDs für eine breite Anwendungspalette in Echtzeit. Wir bieten auch hyperspektrale Messlösungen im sichtbaren und nahinfraroten Bereich, die eine präzise Oberflächenanalyse und die Charakterisierung von Mikrostrukturen ermöglichen. Von Oberflächentopografie bis hin zur Chromophorkonzentration – unsere Messsysteme bieten vielseitige Anwendungen für Ihre Bedürfnisse in Forschung und Industrie.

Am ILM wurden mehrere Messsysteme zur modellgestützten Streifenprojektion entwickelt, die sich insbesondere in Bezug auf die verwendeten Lichtquellen und ihrem spektralen Bereich unterscheiden. So wurde ein Messsystem mit neun LEDs mit Wellenlängen zwischen 450 nm und 950 nm aufgebaut, welches Messraten von 10 Hz

ermöglicht, wodurch eine Vielzahl von In-vivo- bzw. Online-Anwendungen realisierbar ist. Hyperspektrale Messsysteme im sichtbaren und im nahinfraroten Wellenlängenbereich (von 400 nm bis 1600 nm) wurden ebenfalls am ILM entwickelt.

Mono-, multi- und hyperspektrale Messsysteme

Messsysteme, bei denen nur eine Wellenlänge verwendet werden, eignen sich insbesondere zur Bestimmung der Oberflächentopograhie, der Oberflächenrauheit und der tiefenselektierten Bildgebung (siehe Bild)
Multi- und hyperspektrale Messsysteme ermöglichen darüber hinaus auch die Ermittlung von Chromophorkonzentrationen und die genaue Charakterisierung der Mikrostruktur

Ansprechpartner

Prof. Dr. Alwin Kienle

Abteilungsleiter Quantitative Bildgebung / Sensorik

E-Mail schreiben Tel: +49 (0)731 / 1429 224

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