Modellgestützte Streifenprojektion I
Am ILM wurden mehrere Messsysteme zur modellgestützten Streifenprojektion entwickelt, die sich insbesondere in Bezug auf die verwendeten Lichtquellen und ihrem spektralen Bereich unterscheiden. So wurde ein Messsystem mit neun LEDs mit Wellenlängen zwischen 450 nm und 950 nm aufgebaut, welches Messraten von 10 Hz
ermöglicht, wodurch eine Vielzahl von In-vivo- bzw. Online-Anwendungen realisierbar ist. Hyperspektrale Messsysteme im sichtbaren und im nahinfraroten Wellenlängenbereich (von 400 nm bis 1600 nm) wurden ebenfalls am ILM entwickelt.
Abteilungsleiter Quantitative Bildgebung / Sensorik
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