Am ILM wurden mehrere Messsysteme zur modellgestützten Streifenprojektion entwickelt, die sich insbesondere in Bezug auf die verwendeten Lichtquellen und ihrem spektralen Bereich unterscheiden. So wurde ein Messsystem mit neun LEDs mit Wellenlängen zwischen 450 nm und 950 nm aufgebaut, welches Messraten von 10 Hz

 

ermöglicht, wodurch eine Vielzahl von In-vivo- bzw. Online-Anwendungen realisierbar ist. Hyperspektrale Messsysteme im sichtbaren und im nahinfraroten Wellenlängenbereich (von 400 nm bis 1600 nm) wurden ebenfalls am ILM entwickelt.

 

Mono-, multi- und hyperspektrale Messsysteme

  • Messsysteme, bei denen nur eine Wellenlänge verwendet werden, eignen sich insbesondere zur Bestim-mung der Oberflächentopograhie, der Oberflächenrauheit und der tiefen-selektierten Bildgebung, (siehe Bild)
  • Multi- und hyperspektrale Mess-systeme ermöglichen darüber hinaus auch die Ermittlung von Chromophor-konzentrationen und die genaue Charakterisierung der Mikrostruktur

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Prof. Dr. Alwin Kienle

Abteilungsleiter Quantitative Bildgebung / Sensorik

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