3D-chemische Analysen im Nanometerbereich mit FIB-SEM – schnell & präzise

Mit der Helios 5 DualBeam analysieren wir Materialien und Oberflächen auf höchstem Niveau. Die Kombination aus Rasterelektronenmikroskop (REM, engl. SEM) und fokussiertem Ionenstrahl (FIB) ermöglicht es, Proben gezielt aufzubereiten, Querschnitte zu untersuchen und selbst feinste strukturelle Details sichtbar zu machen, einschließlich Partikel- und Polymerstrukturen.

Die Ankopplung des TOFWERK Time-of-Flight-SIMS-Detektors liefert zusätzlich die chemische Zusammensetzung über freigesetzte Sekundärionen. So entsteht eine dreidimensionale Darstellung von Struktur und Chemie bis in den Nanometerbereich – alles in nur einem Messvorgang.

Am ILM steht Ihnen mit diesem System ein in Deutschland einzigartiges Hochleistungs-Analysesystem zur Verfügung, das 3D-chemische Bildgebung mit nanometergenauer Tiefenauflösung bietet. Dank der korrelativen Analytik sehen Sie gleichzeitig strukturelle, chemische und funktionale Eigenschaften Ihrer Materialien – von der Oberflächenmorphologie über Schichtdicken bis hin zu elementaren Zusammensetzungen. So lassen sich selbst komplexe Material- und Bioproben präzise charakterisieren

Mit diesen Informationen gewinnen Sie ein umfassendes Verständnis und können fundierte Entscheidungen in Materialentwicklung, Qualitätskontrolle oder biomedizinischer Forschung treffen.

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Ihr Mehrwert: präzise Analysen, greifbare Ergebnisse

Qualitätssicherung & Schadensanalytik:
Entdecken Sie Kontaminationen, Partikel und Defekte mit sub-nm-Präzision – für maximale Produktsicherheit.
Material- und Prozessentwicklung:
Optimieren Sie Werkstoffe, Beschichtungen und Fertigungsprozesse durch detaillierte Oberflächen- und Schichtanalysen inklusive chemischer Tiefenprofile, Schichtcharakterisierung und Diffusionsprozesse
– für zuverlässige Funktionalität und gezielte Materialeigenschaften.
Sauberkeitsprüfung & Medizintechnik:
Prüfen Sie Oberflächen und Bauteile auf Partikel, Rückstände und Kontaminationen
– für biokompatible Materialien und hygienisch sensible Produkte.
Life-Science-Anwendungen:
Erhalten Sie hochaufgelöste 3D-Bilder von biologischen Geweben ohne Markierung
– für detailgenaue Molekularkartierungen.
Zeit- und Kostenvorteil:
Profitieren Sie von direkter, hochaufgelöster Analytik ohne externe Labore
– für flexible Planung und schnelle Ergebnisse.
Individuelle Lösungen:
Erhalten Sie maßgeschneiderte Analysen für Ihre Fragestellungen in Forschung, Medizintechnik und Industrie
– von Machbarkeitsstudien bis zu komplexen Projekten.

Anwendungsfelder FIB-SEM

Rasterelektronenmikroskopische Aufnahme einer dichten Zellstruktur mit faserähnlichen Verbindungen, eingefärbt in Blautönen

Medizin & Biowissenschaften

3D-Molekularkartierung von Geweben
Implantatoberflächen und Biomaterialien
Untersuchung biologischer Oberflächen ohne Markierung

Wissenschaftler oder Qualitätsmanager in Schutzkleidung hält einen Chip

Industrie & Technik

Schadens- und Defektanalysen
(Halbleiter, Optik, Beschichtungen)
Prozess- und Materialentwicklung
(Schichtcharakterisierung, Diffusion, Kontamination)
Qualitäts- und Reinheitskontrolle

Rasterelektronenmikroskopische Aufnahme einer regelmäßigen mikrostrukturierten Oberfläche mit scharfen, dreieckigen Formen

Mikro- / Nanooptik

Analyse von diffraktiven optischen Elementen
Mikro- und Nanostrukturierung

Unsere Leistungen – Ihre Vorteile:

Auftragsanalytik: Präzise Analysen für Industrie und Forschung – schnell, zuverlässig und praxisnah.
Projektpartnerschaften: Kooperationen in ZIM-, BMBF- und EU-geförderten Projekten für innovative Forschung und Entwicklung.
Wissenstransfer: Seminare, Workshops und Methodenschulungen, um Ihre Teams gezielt zu stärken.

Profitieren Sie von unserer Expertise und finden Sie maßgeschneiderte Lösungen für Ihre Fragestellungen. Wir bieten qualifizierten Erstkunden kostenlose Probemessungen.

Alle technischen Informationen finden Sie in unserem Datenblatt. Lassen Sie uns noch heute ins Gespräch kommen – wir freuen uns auf Ihre Anfrage!

Datenblatt herunterladen (PDF)

Ansprechpartner

Dr. Michael Haupt

Abteilungsleiter Medizinische Geräte

E-Mail schreiben Tel: +49 (0)731 / 1429 220

Kathrin Stadelmann, M.Sc.

Wissenschaftliche Mitarbeiterin

E-Mail schreiben Tel: +49 (0)731 / 1429 669

Dipl.-Ing. (FH) Frank Dolp, M.Sc.

Wissenschaftlicher Mitatbeiter

E-Mail schreiben Tel: +49 (0)731 / 1429 228