Auftragsanalytik für Automotive und OEM
Fehlerursachen in Schichtsystemen und Oberflächen zuverlässig sichtbar machen
In der Automobilindustrie sowie in der Automotive-Entwicklung und im OEM-Umfeld bestimmen Schichtsysteme, Grenzflächenqualität und chemische Zusammensetzung maßgeblich die Funktion, Zuverlässigkeit und Lebensdauer moderner Fahrzeugkomponenten. Bereits kleinste Defekte, Kontaminationen oder Inhomogenitäten in Beschichtungen und Oberflächen können zu Beeinträchtigungen in tribologischen Systemen, optischen Bauteilen oder elektrischen Kontakten führen.
Die steigenden Anforderungen an Serienprozesse, OEM-Qualitätsstandards und funktionskritische Bauteile erfordern hochauflösende Materialanalytik bis in den Nanometerbereich.
Das ILM unterstützt Unternehmen aus der Automotive- und OEM-Industrie mit analytischen Dienstleistungen im Bereich der hochauflösenden Materialcharakterisierung. Die Kombination aus Rasterelektronenmikroskopie und fokussiertem Ionenstrahl (FIB-SEM) ermöglicht die gezielte Präparation von Proben, die Untersuchung von Querschnitten sowie die Sichtbarmachung feinster struktureller Details.
Die Kopplung mit ToF-SIMS (Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) liefert zusätzlich Informationen zur chemischen Zusammensetzung direkt im selben Messworkflow. So lassen sich Defekte, Grenzflächen, Materialverteilungen und Kontaminationen präzise korrelieren und bewerten.
Wir analysieren unter anderem:
Die Kombination aus struktureller und chemischer Analyse ermöglicht die zuverlässige Identifikation auch komplexer Fehlerursachen – präzise, vertraulich und lösungsorientiert.
Bei Scheibenwischersystemen führen Rattern und ungleichmäßiges Laufverhalten zu Beeinträchtigungen der akustischen und funktionalen Performance.
Zur Ursachenanalyse werden Oberflächenmorphologie und chemische Zusammensetzung der beschichteten Reibpartner mittels kombinierter FIB-SEM-Querschnittsanalytik und ToF-SIMS-Untersuchung analysiert. Dadurch lassen sich strukturelle und chemische Eigenschaften direkt korrelieren und gezielt bewerten.
So werden Zusammenhänge zwischen Beschichtungscharakteristik, Oberflächenrauheit und tribologischem Verhalten präzise herausgearbeitet.
Die Ergebnisse zeigen, wie lokale Unterschiede in der Oberflächenstruktur und Beschichtung die Reibungsmechanismen beeinflussen und zu ungleichmäßigen Bewegungsabläufen führen können.
Beschlagbildung ist bei beschichteten Scheinwerfersystemen ein Problem, da sie Lichtdurchlässigkeit und optische Performance reduziert und die funktionale sowie qualitative Gesamteigenschaft des Systems beeinträchtigt.
Zur Ursachenanalyse werden Querschnittsanalysen mittels FIB-SEM sowie chemische Oberflächenuntersuchungen mittels ToF-SIMS durchgeführt. Dabei werden mikroskopische Rissbildungen sowie Haftungsdefizite innerhalb der Beschichtung sichtbar gemacht und räumlich zugeordnet.
Die Ergebnisse zeigen, dass strukturelle Schwächen in der Beschichtung sowie Grenzflächeninstabilitäten zu feuchteinduzierter Degradation und damit zur Beschlagbildung beitragen können.
Bei elektrischen Kontaktsystemen treten mitunter Kontaktfehler auf, die sich weder elektrisch noch mechanisch eindeutig reproduzieren lassen und die Funktionssicherheit beeinträchtigen.
Zur Ursachenanalyse werden betroffene Kontaktflächen materialanalytisch untersucht. Die chemische Charakterisierung ermöglicht die Detektion feinster organischer sowie silikonbasierter Rückstände auf den Funktionsoberflächen. Die Ergebnisse zeigen, dass bereits minimale Oberflächenverunreinigungen die elektrische Kontaktstabilität signifikant beeinflussen.
Schnell & präzise: Hochauflösende Materialanalytik durch erfahrene Expertenteams mit FIB-SEM- und ToF-SIMS-Kompetenz
Anwendungsorientiert: Klare Interpretation der Ergebnisse für Entwicklung, Qualitätssicherung und Serienprozesse
Ursachenfokussiert: Gezielte Identifikation von Fehlerquellen in Schichtsystemen, Oberflächen und Funktionsbeschichtungen
Prozessrelevant: Ableitung konkreter Maßnahmen zur Optimierung von Beschichtungs- und Fertigungsprozessen im Automotive-Umfeld
Verlässlich: Schnelle Umsetzung von Vertraulichkeitsanforderungen und sichere Bearbeitung sensibler OEM- und Entwicklungsprojekte
Sie möchten Material- oder Oberflächenfragestellungen im Automotive- oder OEM-Umfeld klären?
Wir beraten Sie zur passenden FIB-SEM- und ToF-SIMS-Analytik für Ihre Anwendung – von der Ursachenanalyse bis zur Prozessoptimierung.
Wissenschaftliche Mitarbeiterin
E-Mail schreiben Tel: +49 (0)731 / 1429 669Datenschutz-Einstellungen
Cookie Einstellungen
Diese Website verwendet Cookies die die Ihnen Services ermöglichen, die von externen Anbietern angeboten werden, wie z.B. YouTube oder Google Maps. Rechtsgrundlage ist hier Art. 6 DSGVO (1) a.
Sie können hier der anonymisierten Erfassung Ihres Nutzerverhaltens durch MATOMO widersprechen. Zu diesem Zweck speichern wir einen Cookie auf Ihrem Computer, um diese Entscheidung auch bei späteren Besuche zu respektieren.
Bitte beachten Sie, dass abhängig Ihrer Einstellungen einige Funktionen ggf. nicht zur Verfügung stehen.
Mehr Informationen finden Sie in unserer Datenschutzerklärung
